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您的位置：網(wǎng)站首頁 > 技術文章 > 塑料簿膜薄片測厚儀 CH-12.7-STSX 塑料簿膜薄片測厚儀 型號： CH-12.7-STSX
技術參數(shù)：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數(shù)：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數(shù)：
分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
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分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
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分度值：0.01mm
測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）
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